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纳米粒度分析仪SZ902
参考价:

型号:SZ902型

更新时间:2023-06-15  |  阅读:578

详情介绍

SZ902纳米粒度分析仪产品介绍:

 

     SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品,加持了新研发的全自动聚焦技术,实现了对纳米样品的多角度测量,无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量,十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。

 




主要特点:

   ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径,测量范围覆盖0.3nm–15μm

   ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析,可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性


   ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源,仪器即开即用

   ◆余弦拟合相位分析法(CF-PALS)优于目前的频谱分析法(FFT)和传统的位相分析法(PALS)

   ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术

   ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术

   ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器

   ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C

   ◆新一代高速数字相关器,动态范围大于10¹¹

   ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

 

 




产品性能:

 

测量原理

动态光散射(DLS)、静态光散射(SLS)、电泳光散射(ELS)

粒径测量角度

90°,173°(高浓度),12°(Zeta电位)

粒径测量范围

0.3nm -15um*

粒径测量最小样品量

3ul*

粒径测量最小样品浓度

0.1mg/ml

粒径测量最大样品浓度

40%/wv

检测点位置

距入射点0~5mm可调

检测点定位精度

0.01mm

Zeta电位技术

余弦拟合位相分析法(CF-PALS)

适用Zeta电位测量的粒径

任意范围,无明确限制

迁移率范围

1nm - 120μm*

最大电导率

270mS/cm

电导率准确度

±10%

电极

插入式平板电极、U型毛细管电极

分子量范围

340Da - 2x107Da

温度控制范围

-15°C -  120°C

温度控制精度

±0.1°C

光源

集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器

相关器

高速数字相关器,自适应通道配置

检测器

高灵敏度APD

样品池

12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池(多种可选)

系统重量

16kg

外形尺寸

365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)

   注:* 取决于样品及样品池选件

 

 

 

 


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