ScopeX PILOT台式镀层测厚仪画册

产品概述：

ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载优良的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置， 对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产  品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等  多种领域。

产品原理：

用X射线轰击样品，样品受激发后产生X射线荧光。X射线通常把元素原子K层和L层的内层电子打岀原子，产生的空穴被高能量的 外层电子填补。补充到低能量轨道上的高能量电子把多余的能量以X射线荧光辐射岀来。这些辐射岀来的谱线中含有各种元素的 特征。像指纹一样，并且独立于原子的化学价态。辐射的强度与样品中该元素的浓度成正比。

仪器工作原理

ScopeX  PILOT台式镀层测厚仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑，照射在样品位置， 从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号，通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产  生的荧光信号，得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析，是对不均匀或形状不规则的未知样 品以及微观物体进行元素分析的理想方法。

性能优势：

1、微焦X射线装置：测试各类极微小的样品，即使检测面积微 小的样品也可轻松、精准检测。

2、无损检测：X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕 迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非 常安全的。

3、多准直器滤光片：多滤光片和多准直器可选或软件自动切 换组合，使得仪器的多功能性得以显著提 升，以灵活应对不同尺寸的零件。

4、变焦装置：可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深 度测量范围可达0~30 mm。

5、下照式设计：从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实 现对镀层样品的高效测量。

6、高精度手调：搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达 25μm，使微区测量更便捷。

规格参数：

1、元素范围：Al(13)-Fm(100)

2、分析层数：5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素

3、X射线管：50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）

4、探测器：Si-Pin探测器，(可选配高灵敏度SDD探测器)

5、准直器：φ0.1-φ3可选，多准可选

6、相机：高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素

7、放大倍数：40x-160x

8、手动样品：XY平台移动范围：50x50 mm

9、滤光片：固定初级滤光片，多滤光可选形尺寸

10、样品仓尺寸：320×480×130mm（W×D×H）

11、外形尺寸：330×580×360mm（W×D×H）

12、重量：40KG

13、电源：AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同)

14、额定功率：150W

应用领域：

紧固件、五金小零件、珠宝首饰、汽车零部件